繞組直流電阻測試的對象，包含套管導電部分、引線(xiàn)、繞組以及分接開(kāi)關(guān)等整個(gè)回路，因此繞組直流電阻的異常情況也與上述各個(gè)部分的結構以及制造、檢修環(huán)節有關(guān)，分析和處理這種缺陷需要了解套管導電密封頭的結構、引線(xiàn)和繞組的連接方式和制造工藝、分接開(kāi)關(guān)的結構和動(dòng)作原理等等，結合各種測試數據，進(jìn)行綜合的分析和判斷。

繞組直流電阻的現場(chǎng)測量數據，要與歷史數據，特別是出廠(chǎng)試驗數據或交接試驗數據進(jìn)行比對。由于繞組的溫度會(huì )影響測量的結果，因此，需要將兩次測量的數據折算到同一溫度下，然后再進(jìn)行比對。

繞組直流電阻異常通常分為兩種情況：

較好種情況，同一溫度下，各相繞組直流電阻的初值差異常；第二種情況，同一溫度下，各相繞組的互差異常。

不管是那一種情況，對于檢修人員來(lái)說(shuō)，需要結合試驗數據的特征，以及相關(guān)信息，判斷數據異常的原因，找到缺陷點(diǎn)，并進(jìn)行修復。

帶分接開(kāi)關(guān)的繞組，回路連接環(huán)節較多，容易出現問(wèn)題，本章中重點(diǎn)進(jìn)行了說(shuō)明。

對于不帶分接開(kāi)關(guān)的低壓繞組，檢修人員應該查閱干式變壓器出廠(chǎng)說(shuō)明書(shū)，確定繞組和引線(xiàn)的連接方式，必要時(shí)將干式變壓器油撤到手孔以下，打開(kāi)手孔檢查繞組與引線(xiàn)的連接是否松動(dòng)。

對于帶有載分接開(kāi)關(guān)的高壓繞組，導電回路構成環(huán)節比較多，故障點(diǎn)的排查也相對更為復雜一些，檢修人員應該盡可能多的收集信息，輔助判斷缺陷的原因，應該收集的信息包括:

1、繞組套管的制造廠(chǎng)和套管代號、導電密封頭的結構

2、如果回路中包含有載開(kāi)關(guān)，應核對有載開(kāi)關(guān)的制造廠(chǎng)名和開(kāi)關(guān)型號，檢查有載開(kāi)關(guān)動(dòng)作次數，詢(xún)問(wèn)運行人員有載開(kāi)關(guān)經(jīng)常性調壓分接范圍

3、如果回路中包含無(wú)載開(kāi)關(guān)，應核對無(wú)載開(kāi)關(guān)的制造廠(chǎng)名和開(kāi)關(guān)型號，查閱出廠(chǎng)說(shuō)明 書(shū)，確定開(kāi)關(guān)的結構

4、查閱檢修記錄，近期是否有涉及套管、有載或無(wú)載開(kāi)關(guān)的檢修工作

5、查閱巡視記錄，近期的紅外成像儀檢測是否發(fā)現接頭過(guò)熱缺陷

6、查閱干式變壓器出廠(chǎng)說(shuō)明書(shū)，確定繞組和引線(xiàn)的連接方式

1、不帶分接開(kāi)關(guān)的繞組直流電阻試驗。

不帶分接開(kāi)關(guān)的繞組導電回路主要由繞組、引線(xiàn)和出線(xiàn)接線(xiàn)端子構成。繞組和引線(xiàn)之間一般采用接線(xiàn)板對接，螺栓緊固的方式進(jìn)行連接，導電接觸面大，連接方式可靠。

一旦出現 某一相的低壓繞組異常，檢修人員應先先檢查接線(xiàn)端子是否松動(dòng)或開(kāi)裂。如果接線(xiàn)端子正常， 那么很有可能是繞組和引線(xiàn)連接板接觸不良，必要時(shí)撤油至低壓接線(xiàn)手孔，打開(kāi)手孔蓋板， 檢查繞組和引線(xiàn)的連接情況。

2、帶分接開(kāi)關(guān)的高壓繞組直流電阻試驗。

這種情況下，構成導電回路的結構元件比較復雜，包含繞組、引線(xiàn)、分接開(kāi)關(guān)、套管導電密封頭、接線(xiàn)端子等，其中，分接開(kāi)關(guān)和套管導電密封頭的結構較為復雜，也經(jīng)常出現接 觸不良，導致繞組的直流電阻數值超標。

當發(fā)生繞組直流電阻異常缺陷時(shí)，通常會(huì )出現以下 8 類(lèi)缺陷特征，每類(lèi)缺陷特征分別對應著(zhù)一個(gè)或多個(gè)成因。

1、套管的導電密封頭接觸不良。這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

（1）在所有分接位置上，某相繞組的直流電阻數值都明顯偏大；

（2）套管的導電密封頭結構比較復雜，容易出現接觸不良的情況。

2、零點(diǎn)套管的導電密封頭接觸不良。這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

（1）在所有分接位置上，三相繞組的直流電阻數值都明顯偏大;

（2）零點(diǎn)套管的導電密封頭結構比較復雜，容易出現接觸不良的情況。

3、切換開(kāi)關(guān)結構原因造成直流電阻異常

缺陷現象應該具有如下特征：

（1）直阻測試數據不穩定，級差沒(méi)有規律。

（2）切換開(kāi)關(guān)的結構較為復雜，但經(jīng)常出現問(wèn)題的部分主要是觸頭組和面板，觸頭組的電氣連接部分和觸頭組與面板的接觸部分容易出現接觸不良，導致接觸電阻或直流電阻超標。

4、切換開(kāi)關(guān)單數觸頭或雙數觸頭接觸不良，導致直阻異常。這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

在奇數分接位置(或偶數分接位置)上繞組的直流電阻數值整體偏大，然而在偶 數分接位置(或奇數分接位置)上數值正常。

5、選擇開(kāi)關(guān)觸頭接觸不良造成的直流電阻異常，選擇開(kāi)關(guān)主要涉及引線(xiàn)與開(kāi)關(guān)的連接問(wèn)題、開(kāi)關(guān)動(dòng)觸頭和定觸頭的接觸問(wèn)題，這兩個(gè)問(wèn) 題容易引起接觸不良、直流電阻超標。這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

（1）在某一個(gè)固定的分接位置上，繞組直阻偏大，在其他位置上，數值合格；

（2）如果是正反調壓方式，上下半區對應的分接位置出現同時(shí)偏大的現象。

6、極性開(kāi)關(guān)接觸不良導致的直流電阻異常。這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

（1）正反調壓的有載開(kāi)關(guān),上半區和下半區直阻數據相比某半區直阻整體偏大，級差比較穩定；

（2）粗細調壓的有載開(kāi)關(guān)，在整定位置與上下相鄰位置級差變化較大，與歷史數據相比整體偏大。

7、引線(xiàn)和繞組的異常情況導致的直阻異常 這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

（1）某相繞組整體偏大，且級差均勻；

（2） 該相套管結構經(jīng)檢查緊固到位且接觸良好，直接將測試線(xiàn)接在引線(xiàn)頭上測量， 直阻仍然偏大，且級差均勻；

（3）用手晃動(dòng)引線(xiàn)，再進(jìn)行測試，繞組直流電阻數據可能發(fā)生明顯變化。

8、無(wú)載分接開(kāi)關(guān)接觸不良導致的直阻異常 這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

（1） 導電回路中包含無(wú)載分接開(kāi)關(guān)；

（2） 某相繞組直流電阻偏大；

（3） 無(wú)載分接開(kāi)關(guān)位置指示顯示位置不正。

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